陶瓷学报

2018, (06) 749-754

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X射线荧光光谱法测定硅酸锆方法研究

梁艳珍;黄健;

摘要(Abstract):

以ZrSiO_4、SiO_2、ZrO_2、钾长石等标准物质及它们的合成标样来拟合校准曲线,建立了X射线荧光光谱(XRF)对锆石等含锆化合物的精确测定,同时测定硅酸锆样品中SiO_2、Al_2O_3、Fe_2O_3、TiO_2、CaO、MgO、K_2O、Na_2O、P_2O_5、SO_3、ZrO_2、HfO_2等主次组分。发现样品与99.5%的四硼酸锂做熔剂在熔融稀释比为1:10时混合均匀,加入NH_4Br为脱模剂的情况下,在1050-1100℃下预熔180 s后熔融900 s并静止10 s,制得测定熔融片,其结果与标准物质认定值基本一致,各组分测定结果的测量误差小于0.5%,相对标准偏差(RSD,n=5)小于10%。

关键词(KeyWords): X射线荧光光谱法;硅酸锆;校准曲线

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基金项目(Foundation):

作者(Author): 梁艳珍;黄健;

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